车规电子-AEC-Q检测认证-Toy模板网

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AECQ认证是一种应用于汽车零部件的车规级标准，实际上是一套硬件上的规格标准。

AEC 是“Automotive Electronics Council：汽车电子协会”的简称。克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立了汽车电子委员会(AEC)，是主要汽车制造商与美国的主要部件制造商汇聚一起成立的、以车载电子部件的可靠性以及认定标准的规格化为目的的团体，AEC建立了质量控制的标准。

AEC-Q100是针对于集成电路应力测试认证的失效机理,针对于分立器件的标准为AEC-Q101，针对于LED的标准为AEC-Q102，针对于MEMS为AEC-Q103，针对于多芯片组件为AEC-Q104，针对于被动元件设计为AEC-Q200 。

AEC-Q认证：如果成功完成根据AEC-Q文件各要点需要的测试结果，那么将允许供应商声称他们的零件通过了AEC Q认证。供应商可以与客户协商，可以在样品量和条件的认证上比文件要求的要放宽些，但是只有完成所有要求时候才能认为该器件通过了AEC-Q认证。如静电放电,承受电压在任何一个供应商的带Pin元件数据表中都要注明，该要求被高度推荐.但允许供应商作出声明，例如，“AEC-Q101 qualified to ESD H1B”，这意味着除AEC ESD外，供应商通过了所有的测试。请注意，即使合格的器件AEC也不会颁发证书.

(汽车电子相关的测试项目：)

基于集成电路应力测试认证的失效机理AEC-Q100

AEC-Q100是AEC的第一个标准，是由美国汽车电子协会AEC所制定的规范,AEC-Q100于1994年6月首次发表，经过了十多年的发展，AEC-Q100已经成为汽车电子系统的通用标准。对于汽车电子元器件来说AEC-Q100是最常见的应力测试(Stress Test)认证规范。

AEC-Q100主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。AEC-Q100是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态，对每一个芯片进行严格的质量与可靠度确认，特别对产品功能与性能进行标准规范测试。

AEC-Q100测试项目：

序号	测试项目	缩写	检测方法
A组加速环境应力测试
A1	预处理 Preconditioning	PC	JEDEC J-STD-020 JESD22-A113
A2	有偏温湿度或有偏高加速应力测试 Temperature Humidity-Bias or Biased HAST	THB or HAST	JEDEC JESD22-A101 or A110
A3	高压或无偏高加速应力测试或无偏温湿度测试 Autoclave or Unbiased HAST or Temperature Humidity (without Bias)	AC or UHST or TH	JEDEC JESD22-A102, A118, or A101
A4	温度循环 Temperature Cycling	TC	JEDEC JESD22-A104 and Appendix 3
A5	功率温度循环 Power Temperature Cycling	PTC	JEDEC JESD22-A105
A6	高温储存寿命测试 High Temperature Storage Life	HTSL	JEDEC JESD22-A103
B组加速寿命应力测试
B1	高温工作寿命 High Temperature Operating Life	HTOL	JEDEC JESD22-A108
B2	早期寿命失效率 Early Life Failure Rate	ELFR	AEC Q100-008
B3	非易失性存储器耐久性，数据保留和操作寿命 NVM Endurance, Data Retention, and Operational Life	EDR	AEC Q100-005

基于离散分立半导体元件应力测试认证的失效机理AEC-Q101

AEC-Q101认证为汽车级半导体分立器件应力测试，主要对汽车分立器件，元器件标准规范要求，如：车用光电耦合器：用于车用隔离件、接口转换器，光电耦合器，触摸屏控制盘，整卷分立器件等。

AEC-Q101测试项目：

序号	测试项目	缩写	检测方法及标准
1	功能参数 Pre- and Post Stress Electrical Test	TEST	用户规格或供应商的标准规格 User specification or supplier’s standard specification
2	预处理 Pre-conditioning	PC	JESD22 A-113
3	目检 External Visual	EV	JESD22 B-101
4	参数验证 Parametric Verification	PV	仅限AEC用户规范 Individual AEC user specification
5	高温反向偏压 High Temperature Reverse Bias	HTRB	MIL-STD-750-1 M1038 Method A
5a	交流阻断电压 AC blocking voltage	ACBV	MIL-STD-750-1 M1040 Test condition A
5b	高温正向偏压 High Temperature Forward Bias	HTFB	JESD22 A-108
5c	稳态操作 Steady State Operational	SSOP	MIL-STD-750-1 M1038 Condition B (Zeners)
6	高温栅极偏压 High Temperature Gate Bias	HTGB	JESD22 A-108
7	温度循环 Temperature Cycling	TC	JESD22 A-104 Appendix 6
7a	温度循环热实验 Temperature Cycling Hot Test	TCHT	JESD22 A-104 Appendix 6
7alt	温度循环分层测试 TC Delamination Test	TCDT	JESD22 A-104 Appendix 6 J-STD-035
8	无偏加速应力测试 Unbiased Highly Accelerated Stress Test	UHAST	JESD22 A-118
8 alt	高压测试 Autoclave	AC	JESD22 A-102
9	高加速应力测试 Highly Accelerated Stress Tes	HAST	JESD22 A-110
9 alt	高温高湿反向偏压 High Humidity High Temp. Reverse Bias	H³TRB	JESD22 A-101
9a	高温高湿正向偏压 High Temperature High Humidity Bias	HTHHB	JESD22 A-101
10	间歇运行寿命 Intermittent Operational Life	IOL	MIL-STD-750 Method 1037
10 alt	功率和温度循环 Power and Temperature Cycle	PTC	JESD22 A-105

基于车用离散光电子半导体应力测试认证的失效机理AEC-Q102

AEC-Q102认证对象：汽车电子所有内外使用的分立光电半导体元器件。

AEC（汽车电子委员会）于2017年3月正式发表 AEC-Q102 REV 标准，此规范主要为离散光电组件产品进入车用市场制定的判断标准，同时也是目前最新针对车用LED通用的国际标准。其验证包含实验样品数量的重新定义、LEDTj (Junction Temperature)控制的方式、气体腐蚀的增加等，每项都是针车用 LED 所可能遭遇的环境来设计，以保护行车时的安全性。

LED光源在汽车的应用越来越广，车灯照明、智能系统、盲点侦测等应用都需要高品质的LED，也因此众多 LED 元组件供货商积极布局车用 LED 领域。但如何让其LED产品在车电市场中占有一席之地，通过 AEC-Q102 验证是最重要的通行证之一。

AEC-Q102测试项目：

序号	测试项目	缩写	检测方法
1	功能参数 Pre- and Post- Stress Electrical and Photometric Test	TEST	用户规格或供应商的标准规格 User specification or supplier’s standard specification
2	预处理 Pre-conditioning	PC	JEDEC JESD22-A113
3	目检 External Visual	EV	JEDEC JESD22-B101
4	参数验证 Parametric Verification	PV	仅限AEC用户规范 Individual AEC user specification
5a	高温工作寿命1 High Temperature Operating Life HTOL	HTOL1	JEDEC JESD22-A108
5b	高温工作寿命2 High Temperature Operating Life HTOL	HTOL2	JEDEC JESD22-A108
5c	高温反向偏压 High Temperature Reverse Bias	HTRB	JEDEC JESD22-A108
6a	高温湿度工作寿命1 Wet High Temperature Operating Life	WHTOL1	JEDEC JESD22-A101
6b	高温湿度工作寿命2 Wet High Temperature Operating Life	WHTOL2	JEDEC JESD22-A101
6c	高温高湿偏压测试 High Humidity High Temperature Reverse Bias	H³TRB	JEDEC JESD22-A101
7	温度循环 Temperature Cycling	TC	JEDEC JESD22-A104
8a	功率温度循环 Power Temperature Cycling	PTC	JEDEC JESD22-A105
8b	间歇性工作寿命 Intermittent Operational Life	IOL	MIL-STD-750-1 Method 1037
9	低温工作寿命 Low Temperature Operating Life	LTOL	JEDEC JESD22-A108

微机电系统(MEMS)压力传感器器件应力测试认证的失效机理AEC-Q103

AEC-Q103是针对汽车传感器的测试标准。

近期汽车电子委员会(AEC)根据车载MEMS特性制定出最新标准AEC-Q103，由于之前MEMS微机电系统做车规认证一直是参照AEC-Q100，此次制定的标准无疑是为行业提供了更具有针对性的要求，对于MEMS做车规级认证也更加合理。

测试项目：

序号	测试项目	缩写	检测方法
M1	湿度和温度循环 Humidity and Temperature Cycle	HTC	JEDEC JESD22-A108 IEC 60068-2-2, Test BA
M2	低温使用寿命 Low Temp Operating Life	LTOL	JEDEC JESD22-A108 IEC 60068-2-2, Test AA
M3	低温存储 Low Temperature Storage	LTS	JEDEC JESD22-A119 IEC 60068-2-2, Test AA
A2	稳态温度湿度偏差耐久性试验 Temperature Humidity-Bias	THB	JEDEC JESD22-A101
A3	温度及湿度(无偏差) Temperature_x005f Humidity (without Bias)	TH	JEDEC JESD22-A101

基于车用多芯片组件应力测试认证的失效机理AEC-Q104

AEC-Q104认证主要针对车用多芯片模块可靠性测试，是AEC-Q系列家族成员中较新的汽车电子规范。

AEC-Q104上，为了依据MCM在汽车上实际使用环境，为复合式的环境，因此增加顺序试验，验证通过的难度变高。例如，必须先执行完High Temp Operating Life(HTOL)，才能做Thermal Shock(TS)，颠倒过来就不行。AEC-Q104中针对MCM，增加H系列的测项；此外，针对零件本身的可靠性测试(Component Level Reliability)，也增加了Thermal Shock(TS)及外观检视离子迁移(VISM)。

AEC-Q104规范中，共分为A-H八大系列。其中，一大原则，在于MCM上使用的所有组件，包括电阻电容电感等被动组件、二极管离散组件、以及IC本身，在组合前若有通过AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200，MCM产品只需进行AEC-Q104H内仅7项的测试，包括4项可靠性测试:TCT(温度循环)、Drop(落下)、LowTemperature Storage Life(LTSL)、Start Up &Temperature Steps(STEP)；以及3项失效类检验:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、Destructive Physical(DPA)；若MCM上的组件未先通过AEC-Q100、AEC-Q101与AEC-Q200，那必须从AEC-Q104的A-H八大测项共49项目中，依据产品应用，决定验证项目，验证项目会变得比较多。

测试项目：

序号	测试项目	缩写	检测方法
A组加速环境应力测试
A1	预处理 Preconditioning	PC	JEDEC J-STD-020 JESD22-A113
A2	有偏温湿度或有偏高加速应力测试 Temperature Humidity-Bias or Biased HAST	THB or HAST	JEDEC JESD22-A101 or A110
A3	高压或无偏高加速应力测试或无偏温湿度测试 Autoclave or Unbiased HAST or Temperature Humidity (without Bias)	AC or UHST or TH	JEDEC JESD22-A102, A118, or A101
A4	温度循环 Temperature Cycling	TC	JEDEC JESD22-A104 and Appendix 3
A5	功率温度循环 Power Temperature Cycling	PTC	JEDEC JESD22-A105
A6	高温储存寿命测试 High Temperature Storage Life	HTSL	JEDEC JESD22-A103
B组加速寿命应力测试
B1	高温工作寿命 High Temperature Operating Life	HTOL	JEDEC JESD22-A108
B2	早期寿命失效率 Early Life Failure Rate	ELFR	AEC Q100-008
B3	非易失性存储器耐久性，数据保留和操作寿命 NVM Endurance, Data Retention, and Operational Life	EDR	AEC Q100-005

无源元件的应力测试验证AEC-Q200

AEC-Q200是针对汽车上应用的被动元器件的产品标准。

汽车电子的过电压保护存在更为严苛的电路条件，因此一般要求制造商通过ISO/TS16949的质量体系认证，相关的分立器件要求通过AECQ101认证，被动元件要求通过AECQ200认证，是非常严苛的认证规范。一般来说12V的汽车电子系统使用5-6KW28V的TVS(瞬态抑制二极管)，24V的汽车电子系统使用36V的TVS即可。

目前汽车产业中针对于零件资格及品质系统标准的就是AEC(汽车电子委员会)，针对于被动元件设计为AEC-Q200，其规范了被动零件所必须达成的产品品质与可靠度。华碧实验室是众多车企的认可第三方测试机构，可以提供AEC-Q200认证服务。

测试项目：

序号	测试项目	检测方法
1	应力测试前后电气测试 Pre- and Post- Stress Electrical Test	用户规范 User Spec.
3	高温存储 High Temperature Exposure (Storage)	MIL-STD-202 Method 108
4	温度循环 Temperature Cycling	JESD22 Method JA-104
7	偏高湿度 Biased Humidity	MIL-STD-202 Method 103
8	工作寿命 Operational Life	MIL-STD-202 Method 108
9	外观 External Visual	MIL-STD-883 Method 2009
10	尺寸 Physical Dimension	JESD22 Method JB-100文章来源地址https://www.toymoban.com/news/detail-442064.html