电源设计1【测试方法、LDO】

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电源设计基础1【测试、LDO】

1 电源的主要参数

  • 电源输入输出:输入的最大值、最小值、经典值;输出的典型电压值、最大电流值;
  • 输出纹波 Δ V \Delta V ΔV、噪声 1 F \frac{1}{F} F1
  • 轻载效率,满载效率;
  • 功率耗散与温升,工作温度范围;
  • 电路占板面积;
  • 电源的其他功能:
    • Shutdown关机、PowerGood指示;
    • 线性调整率:输入电压变化时,输出电压的变化情况;
    • 负载调整率:负载调整时,输出电压的波动情况;
    • 输入反接保护、输出反灌保护、短路保护、电流限制、EMC/EMI;
    • 电压电流温度回读功能、上下点跟踪与时序。

2 电源测试

2.1 效率与静态电流测试

效率测试

 效率测试直接影响到系统电源的可靠性,低效率也会给系统带来散热问题。效率的计算公式为:
η = P O U T P I N \eta = \frac{P_{OUT}}{P_{IN}} η=PINPOUT
P O U T P_{OUT} POUT为输出功率,为输出电压和输出电流的乘积;
P I N P_{IN} PIN为输入功率,为输入电压和输入电流的乘积。

影响效率的因素

 电源的损耗通常包括导通损耗、开关损耗、驱动损耗、阻性元件的直流损耗等,电源效率与输入电压和输出负载有关。评估电源时,通常需要在几个不同的输入电压水平下测量效率,以便更好地判断出电路中的损耗究竟在何处。
低输入电压下效率下降,这通常是由于电路中的阻性元件产生的导通损耗造成的。这些损耗之所以会在低输入电压下增加,是因为需要较高的电流来维持相同的输出功率。而高输入电压下的效率下降,通常是由于开关损耗造成的。这些损耗来自寄生电容。在高输入电压下损耗增加,是因为寄生电容会在更高的电压下充放电。

 效率分为冷机效率热机效率。冷机效率为系统刚启动时的电源效率;热机效率为系统满载运行一段时间后的电源效率。一般来说,电源的效率会随着温度增加而降低,因此,热机效率往往更低,设计时更应仔细考虑。

静态电流测试

方法一:将高精度万用表(6位半)串入电源输入端,直接测试输入电流。

方法二:如图1所示,在电源输入端串入一个10K电阻,可以将几 μ A \mu A μA的静态电流电流放大1万倍,转换成电压信号进行测试。但在电源启动阶段,电源是需要一定电流的(毫伏级),仅使用一个大电阻因限流会导致电源启动不成功。这时,可以手动在该电阻上并联一个二极管,在启动阶段,通过二极管给电源供电;等电源启动成功后去掉二极管,这时,可以直接通过普通万用表测得输入大电阻上的电压,从而得到静态电流值。
电源设计1【测试方法、LDO】

图1 静态电流测试

2.2 输出测试

1、输出电压调整率

 源调整率 Line Regulation:指输出电压随输入电压变化情况。
 负载调整率 Load Regulation:输出负载变化时,输出电压的变化情况。
 温度调整率:在电源工作温度变化范围内,输出电压的变化情况。

测试方法:1、将万用表接入电源输出端,接上输入电压(输入电压为额定值)和输出负载,可以测得空载情况下的输出电压值 V 1 N V_{1N} V1N,增加负载至电源满载状态,可测得满载电压 V 1 F V_{1F} V1F。2、再将输入电压调至最低工作电压,测得此时的空载输出电压 V 2 N V_{2N} V2N和满载输出电压 V 2 F V_{2F} V2F

2、输出纹波 Output Ripple

测量方法:将示波器调至交流档、20MHz带宽;使用接地环,确保接地环路尽可能地小;测试位置在输出电容的最末端。测试时需要用电子负载改变电源的负载大小,记录不同负载下,电源的纹波、输出电流、开关(对于开关电源)的波形。

3、动态负载测试(电源的瞬态响应) Transient

测试方法:使用电子负载,测试负载电流突然变化时,输出电压的过冲或反过冲值。
具体测试流程:

  • 连接:将电子负载和示波器分别并联在电源输出端和地上,注意电源和电子负载的极性。
  • 电子负载设置:将电子负载设置为CC模式(定电流),设置A值(电流最大值)、B值(电流最小值)、上升/下降斜率频率占空比等参数。一般来说,将A值选定为电源的额定电流;B值初始设为A值的80%,后续根据实际进行调整;斜率表示了负载电流的变化速率,斜率越高意味着负载变化电流中的有效频率越高,可以按电子负载的最大值来选择;频率和占空比通常选用1KHz、50%作为初始值,后续可依据实际进行调整。
  • 示波器设置:设置为交流耦合,垂直档位和采样时间调整至合适值。打开示波器的平均采样模式,可以获得低噪声的瞬态响应测量曲线。
  • 观察示波器的电压波形。

4、Rise Time & OverShoot
上电时,上电速度是否过慢或者过快,是否有过冲产生毛刺。

5、Fall Time & UnderShoot
掉电时,掉电速度是否过慢或者过快,是否有过冲产生毛刺。

6、电源时序 Power Sequency
上电时,测试系统各个电源上电顺序是否与设计一致。

7、电源保护功能 Protection
对于一些带有保护功能的芯片,一般还需要测这三项。
过流保护(OCP)
短路保护(SCP)
输出过压保护(OVP)

下面为DC/DC特有:
8、相位抖动 Phase Jitter
测量开关电源SW结的开关波形,理论上在负载不变时,该点的波形应该是稳定的PWM波,但实际波形会有轻微抖动,使用示波器的叠加功能可以看出波形的抖动幅度。

9、MOS Vds Spike
对于外接MOS的开关电源,需要测试两颗MOS管的漏源极电压( V D S V_{DS} VDS)波形,观察开关时电压毛刺是否过高,防止超过MOS耐压。

3 LDO设计要点

3.1 LDO电源拓扑

 LDO主要是由一个工作在线性区的调整管(晶体管或者MOS管,各有特点)以及一个放大器构成。如图2所示,由采样电阻 R 1 R_1 R1 R 2 R_2 R2构成分压网络,对输出电压进行采样,通过放大器与内部参考电压 V R E F V_REF VREF比较,再通过驱动调整管,调整输出电压。LDO基于反馈的原理,通过将输入电压、负载变化等对输出电压产生的影响反馈至放大器,实现对输出电压的快速调节。图中的D2是一个反向的稳压二极管。

电源设计1【测试方法、LDO】

图2 LDO拓扑结构图

 从电源拓扑可以看出,LDO是通过改变调整管的开关程度,从而实现降压。由于调整管的导通电阻等影响,输入与输出必然会存在一个电压差。输出电流越大,这个导通电阻带来的压降会越大。一般而言,采用MOSFET的LDO,压降会比用晶体管做调整管的LDO要小。同时,输入输出的压降会以热能的形式消耗掉,输入输出电压差越大,输出电流越高,工作温度越高,压降带来的功耗会越大。由此产生了两个我们需要关注的参数:功耗和温度。

 目前LDO大多使用MOS管,具体特点需要结合NMOS和PMOS的器件特性来分析。(待补充)

3.2 LDO关键参数

  • 最小压降(Dropout Voltage)
     在某种输出电流情况下,输入输出的最小电压差。不同的芯片工艺和结构(NMOS和PMOS),压降不同;工作电流不同,压降不同;通常电流越大,温度越高,压降越大。

  • 输入电压
     器件耐压要考虑输入电压的最高瞬态值;长输入电缆情况,要考虑浪涌电压;通常按2倍选取耐压值比较安全。

  • 输出电流
     实际输出电流能力与输入输出电压差有关,输出电压越高输出电流越小;
     温度越高输出电流越小;
     需要的输出电流越大,散热问题越严重(需考虑散热芯片封装);
     大电流应用建议使用开关电源。

  • 热阻参数
     LDO的最大功率损耗 P D P_D PD为最大输入输出电压差与输出电流的乘积,再加上静态功耗。芯片内核的温度 T J T_J TJ可用以下公式计算:

P D = [ V I N ( m a x ) − V O U T ] × I O U T + I Q × V I N ( m a x ) T J = T A + P D × θ J A = T A + P D × ( θ H E A T S I N K + θ C A S E − H E A T S I N K + θ J C ) P_D = [V_{IN(max)}-V_{OUT}] \times I_{OUT} + I_Q \times V_{IN(max)} \\ T_J = T_A+P_D \times \theta_{JA} = T_A+P_D \times (\theta_{HEATSINK} + \theta_{CASE-HEATSINK} + \theta_{JC}) PD=[VIN(max)VOUT]×IOUT+IQ×VIN(max)TJ=TA+PD×θJA=TA+PD×(θHEATSINK+θCASEHEATSINK+θJC)
T A T_A TA:环境温度
T J M A X T_{JMAX} TJMAX:芯片内核正常工作的最高温度
θ J A \theta_{JA} θJA:芯片内核到芯片外部环境的热阻
θ H E A T S I N K \theta_{HEATSINK} θHEATSINK:散热器到空间的热阻
θ C A S E − H E A T S I N K \theta_{CASE-HEATSINK} θCASEHEATSINK:芯片壳体到散热器的热阻
θ J C \theta_{JC} θJC:芯片内核到外壳的热阻

  • 纹波与噪声
     LDO需要关注输入到输出的纹波抑制比(PSRR)。PSRR是衡量电路对于输入电源中纹波抑制大小的重要参数,表示为输出纹波和输入纹波的对比数,单位为分贝(dB),计算公式为:
    P S R R = 20 l g R i p p l e i n p u t R i p p l e o u t p u t PSRR = 20lg \dfrac{Ripple_{input}}{Ripple_{output}} PSRR=20lgRippleoutputRippleinput
    R i p p l e i n p u t Ripple_{input} Rippleinput:输入端电源纹波的峰峰值;
    R i p p l e o u t p u t Ripple_{output} Rippleoutput:输出端电源纹波的峰峰值。

  • 瞬态响应(transient load response)
     输出电流突变的时候,输出电压的波动范围。瞬态响应和负载电流突变幅度有关;瞬态响应和负载电流的突变斜率有关;瞬态响应差,可能会导致系统偶发性复位。

  • 输出电容
     1、较大的输出电容ESR会产生较大的损耗功率,同时也会影响电源的滤波效果;
     2、过小的ESR会不满足LDO的高频补偿,会导致LDO振荡(LDO负载发生瞬态变化时,利用ESR能立即产生电压波动,从而引起LDO反馈电路动作)。

  • 静态电流
     在做低功耗、长待机应用时,需要重点考虑。

  • 输入电源与输出电源的延时
     在电源上电时序控制时考虑。

3.3 主要器件选型

滤波电容

 在LDO电源电路中,电容主要起到作为电荷的缓冲池和泄放高频噪声两个作用。可以通过钽电容加陶瓷电容组合,既能提供高频噪声的低阻抗泄放通路,也能在负载变化时提供一定缓冲,还能提供一定ESR满足LDO反馈要求。

注意: 在LDO设计选择电容时,需要注意LDO芯片是否对输出滤波电容的ESR有要求。在某些电源芯片手册(RT9193)中,会要求输出滤波电容ESR高于一定值( 1 m Ω 1m\Omega 1mΩ),用作LDO的高频补偿。(原理:当LDO电源的负载电流发生瞬时变化时,利用ESR能立即产生电压波动,从而引起LDO电源反馈电路的动作,能让LDO电源针对负载变化作出快速调整))

分压电阻

 LDO的反馈通路有一定偏置电流要求,这要求分压电阻阻值不能太大;分压电阻过小,电阻功耗会比较大。建议依据手册要求选择电阻阻值,同时选用高精度电阻。文章来源地址https://www.toymoban.com/news/detail-474039.html

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