BIST分为logic bist和memory bist(MBIST)。
logic bist测试随机逻辑电路。
memory bist 测试存储器电路,通过输入不同组数值测试sram存储器有没有坏点,需要将自检的硬件逻辑加到rtl里面。
存储器电路模型:地址译码器、读写控制逻辑、存储单元阵列文章来源:https://www.toymoban.com/news/detail-515859.html
MBIST测试对象是RAM或ROM
MBIST电路图
1、向量产生电路
2、BIST控制电路(由状态机组成)
3、响应分析器(用比较器、MISR(multiple input register多输入移位寄存器)构成)文章来源地址https://www.toymoban.com/news/detail-515859.html
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