【数字IC手撕代码】Verilog模三检测器(判断输入序列能否被三整除)|题目|原理|设计|仿真-Toy模板网

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模3器,数字IC手撕代码,verilog,芯片,fpga,面试,硬件架构

一、前言

本系列旨在提供100%准确的数字IC设计/验证手撕代码环节的题目，原理，RTL设计，Testbench和参考仿真波形，每篇文章的内容都经过仿真核对。快速导航链接如下：

1.奇数分频
2.偶数分频
3.半整数分批
4.小数/分数分频
5.序列检测器
6.模三检测器
7.饮料机
8.异步复位，同步释放
9.边沿检测（上升沿，下降沿，双边沿)
10.全加器，半加器
11.格雷码转二进制
12.单bit跨时钟域（打两拍，边沿同步，脉冲同步）
13.奇偶校验
14.伪随机数生成器[线性反馈移位寄存器]
15.同步FIFO
16.无毛刺时钟切换电路

应当说，手撕代码环节是面试流程中既重要又简单的一个环节，跟软件类的岗位相比起来，数字IC的手撕代码题目固定，数量有限，属于整个面试中必得分的一个环节，在这个系列以外，笔者同样推荐数字IC求职者使用“HdlBits”进行代码的训练
链接如下
HDLBits — Verilog Practice

二、模三检测器题目

1.使用verilog代码，设计电路，判断输入序列能否被三整除，能的时候输出1，不能的时候输出0

三、模三检测器的原理

模三检测器的实质是一个判断输入序列的序列检测器
我们可以通过如下的推导过程来进行理解

一个输入被三除，对于余数来说只存在三种可能，分别为0，1，2（被整除，余数为1，余数为2），那么假如0，1，2对应于三种状态，加上IDLE的默认状态，我们需要四个状态，来表示模三检测器的状态机。

但是这里存在一个关键点

即输入序列是一边移位，一边输入，即假如第一位输入1，第二位输入0，在输入第二位的时候，当前输入序列表示为10，即先输入的1，移动到了输入序列的高位处了。

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这个移位为什么关键呢？

因为这个“第一位输入的1”假如在低位处，模三检测器的余数判断为1，但是假如到了高位，这个模三检测器的余数判断为2，这对于我们能否正确理解状态机的状态跳转有很大的帮助

具体的状态机转换是什么样子的呢？

当前态余数	输入	次态余数	输出
0	1	1	0
0	0	0	1
1	0	2	0
1	1	0	1
2	0	1	0
2	1	2	0

用第四行的状态变化再次帮助读者理解移位的奥妙，假如当前状态的余数是1，输入的同时，原序列左移，相当于余数翻倍变为2
此时假如data输入0，余数为2，data输入1，余数是0，可以整除。
这里的“当前态”即状态机中的“state”，“次态”即状态机的“next_state”,可以发现，模三检测器的本质，是一个结合了当前状态和输入序列，来判断输出的mealy型状态机

四、RTL设计

module mod3_check(clk,rst_n,data,test);

input clk;
input rst_n;
input data;
output test;

parameter IDLE =2'b00,
s1 =2'b01,
s2 =2'b10,
s3 = 2'b11;

reg [1:0] state,nstate;

always@(posedge clk or negedge rst_n)
begin
if(!rst_n)
state<=IDLE;
else
state<=nstate;
end


always@(*)
begin
case(state)
IDLE: nstate = data?s1:s3;
s1: nstate = data?s3:s2;
s2: nstate = data?s2:s1;
s3: nstate = data?s1:s3;
default nstate = IDLE;
endcase
end

assign test = state==s3?1:0;

endmodule

五、Testbench设计

`timescale 1ns/1ps
module mod3_check_tb();
reg clk;
reg rst_n;
reg data;
wire test;

mod3_check u1(.clk(clk),.rst_n(rst_n),.data(data),.test(test));

always #5 clk = ~clk;
always #9.99 data = $random;
initial
begin
clk = 0;
rst_n = 1;
data = 0;
#14
rst_n = 0;
#37
rst_n = 1;
end

endmodule