LCR 测量仪使用方法-Toy模板网

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LCR 数字电桥又称 LCR 测量仪、LCR 电桥、数字电桥等等。

LCR 测量仪使用方法,硬件工程,pcb工艺

使用方法：

以HIOKI为例说明（参考说明书）：
LCR 测量仪使用方法,硬件工程,pcb工艺

显示参数选择：

需要根据被测元件选择。
手册上的说明如下：
LCR 测量仪使用方法,硬件工程,pcb工艺

（1）以两个不同的测试频率下损耗因子的变化性来决定。若频率升高而损耗增加，则应选用串联等效电路。若频率升高而损耗减小，则应选用并联等效电路。对于电感来说，情况正好与电容相反。实际中，器件的 D 不可能与频率完全成正比关系，其可能有并联成分，也可能有串联成分，应看何种成分占主导。
（2）根据元件的最终使用情况来判定。如用于信号耦合电容，则最好选择串联方式，旁路或并联谐振则使用并联
等效电路。习惯上说低阻抗元件用串联，从数值上说阻抗小于 100 欧姆一定用串联，大于 10 千欧用并联，(100 欧姆-10 千欧)根据实际情况选择。
补充：
什么是损耗 D,品质因数 Q?
答： D、Q 两者互为倒数，其计算方法为被测器件的有功功率 PR(电阻器耗能)与无功功率 PC(电容器储能)或 PL(电感器储能)的比值。对串联和并联等效电路使用下式计算：Q=Rs/|Xs|,D=|Xp|/Rp，D 和 Q 的值与等效方式无关。
怎样选择测试速度?
一般来说,测试速度是以牺牲测试精度为代价的：速度越快,精度越差，读数稳定性差，有效位数变少。如果要测试精度,一般选择慢速，要考虑测试速度和测试精度就选择中速。