芯片设计中，DFT岗位是什么体验？

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1.什么是DFT？

提到DFT，大部分人想到的应该是离散傅里叶变换（Discrete Fourier Transform，缩写为DFT），笔者大学被信号与系统这门课虐的不轻。但是在IC界，DFT的全称是 Design For Test。
指的是在芯片原始设计中阶段即插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，通过这部分逻辑，生成测试向量，达到测试大规模芯片的目的。
Design–实现特定的辅助性设计，但要增加一定的硬件开销
For test–利用实现的辅助性设计，产生高效经济的结构测试向量在ATE上进行芯片测试。

2、DFT工作流程

DFT的工作流程相信不同的公司都不完全一样，主要看公司的流程以及芯片的规模。
通常来说，当接到项目之后，会和前端/后端/测试工程师测试工程师一起开会，制定DFT Spec包括IP测试策略，Pin sharing，HT Block划分和Clock设计等。
接下来会分模块在设计中插入以上提到的电路 (RTL/Gate Level插入) ，然后进行综合，接下来会是Scan Chain连接和相关电路的插入。
之后是验证阶段，用不同的EDA工具对电路进行验证，比如SpyGlass进行Rule Check。然后可以跑ATPG和Simulation的验证。
同时会配合后端工程师进行物理实现，去看Test SDC是否合理。
然后根据不同的要求(比如Coverage，物理实现代价)重新配置参数进行电路调整，其中会经历多次的迭代。
当最终的网表物理实现后，会用工具跑ATPG，生成最后的pattern并进行门级仿真验证.
等到最后芯片生产完之后，和PE/TE一起bring-up。这其中会发现很多问题，可能是pattern%或者是电路的问题，这一步是最折腾的，轻则重新产生pattern解决，重则会发现是块砖
最后还可能和TE一起合作，提高良率Q
大公司如英特尔、英伟达、AMD等DFT的架构基本成熟。DFT 相关的design 也比较solid, DFT的逻辑直接在各个function IP 例化即可。

3、DFT职业发展路径和前景？

目前DFT的人才缺口还是很大的。目前在国内规模大的设计公司都是招聘DFT工程师的。
我觉得DFT工程师比较少的原因也是大部分高校研究生阶段并没有DFT专门的课程或方向，所以大家对DFT了解不够深入，相比设计验证和测试来说，显得更小众一些。
这恰恰是一个越在大厂越重要的角色。前些年我们对DFT并不算重视，近些年才逐渐进入高端线，所以现在的DFT工程师极其稀缺。
一直以来，DFT技术也在不断优化进步。无论是钻研技术做技术专家，还是带团队做leader，只要入行做到资深，都能有很不错的前景。
如果你正在面临入行/转行IC的选择关口，对各方向岗位还拿捏不准，对代码不感兴趣，又不想做后端，那么不妨考虑下DFT，同样是一个可以走得很远且值得奋斗的岗位选择。

4、DFT岗位薪资和加班状况如何？

根据智联招聘、拉钩招聘等招聘网站的数据显示，截至2023年4月，DFT工程师的平均薪资在**每月20,000元到35,000元人民币不等，**其中顶级岗位的薪资甚至可以达到每月超过60,000元人民币。
从当下市场需求来看，DFT有着较大的需求。人才培养也没有很成熟的体系。目前的DFT工程师要么是企业进行培养，要么转岗，平均年薪可高达30W。 关于DFT岗位，芯学长网有详细介绍，如果大家对IC设计其他岗位比较感兴趣也可去芯学长网。
加班状况：
单论DFT本身来说，工作强度相对较前端稍微轻松一些，但具体的加班情况还是需要根据公司项目来定。

5、DFT入门书籍推荐

1、数字系统设计和可测性设计
该书主要介绍数字系统设计和可测试性设计的基础知识，包括数字电路和计算机组成原理的基础知识、测试模式生成和边界扫描等基本概念。这本书的讲解通俗易懂，适合初学者阅读。
2、超大规模集成电路测试
该书系统地介绍了数字集成电路和存储器的测试方法和技术，包括测试模式生成、边界扫描、BIST等。书中还介绍了混合信号系统的测试方法和技术。这本书对于初学者来说是一本非常好的教材。
3、VLSI Test Principles and Architectures
这本书是一本经典的DFT教材，主要介绍了测试模式生成、边界扫描、BIST、ATPG等DFT技术的原理和应用。该书的内容全面，深入浅出，适合学习DFT的初学者和专业人士。
4、System-on-Chip Test Architectures
这本书主要介绍了现代SoC测试的技术和方法，包括多核测试、功耗测试、可靠性测试等。该书的内容涵盖了现代VLSI测试的最新技术，适合从事SoC测试和设计的专业人士阅读。
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相信很多了解芯片设计岗位的同学都听说过DFT设计测试，DFT全称Design for Test(即可靠性设计)，众所周知，测试的目的是为了保证芯片成品的质量以及功能逻辑的可靠性的必须措施。文章来源地址https://www.toymoban.com/news/detail-683616.html