强大的JTAG边界扫描(5):FPGA边界扫描应用

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上一篇文章,介绍了基于STM32F103的JTAG边界扫描应用,演示了TopJTAG Probe软件的应用,以及边界扫描的基本功能。本文介绍基于Xilinx FPGA的边界扫描应用,两者几乎是一样。

1. 获取芯片的BSDL文件

FPGA的BSDL文件获取方式,可以参考之前的文章:BSDL文件获取。

以Xilinx Kintex-7系列FPGA XC7K325T为例,可以在BSDL Library网站(www.bsdl.info )获取,或者在ISE、Vivado的安装目录获取,

D:\Program\Xilinx\14.7\ISE_DS\ISE\kintex7\data
D:\Program\Xilinx\Vivado\Vivado\2018.3\ids_lite\ISE\kintex7\data

2. 硬件连接

首先需要准备好以下硬件:

  • JTAG调试器,如JLink V9标准版
  • 一块FPGA板子,如Xilinx XC7K325T

Xilinx的JTAG接口和Jlink的JTAG接口线序不一致,需要使用单独的杜邦线分别连接TCK、TMS、TDI、TDO和VREF、GND信号。

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3. 边界扫描测试

打开TopJTAG新建工程,选择JTAG设备为JLink
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如果连接正常,会显示当前连接芯片的IDCODE

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指定BSDL文件路径,并进行IDCODE校验。

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初始状态为stop状态,

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初始默认为Sample状态,点击RUN按钮,就可以看到所有管脚的实时状态,黑色的是电源管脚,黑色的是高电平,蓝色的是低电平。闪烁的说明当前为高低电平翻转状态。

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在左侧Pins窗口或右侧芯片视图,选择一个芯片管脚,右键,可以选择添加到Watch窗口或Waveform窗口

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Watch窗口可以看到管脚实时状态,并且可以统计电平翻转的次数,Waveform窗口可以显示实时的波形。

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Waveform支持放大、缩小、暂停等基本操作。

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Pins窗口,选择一个管脚右键之后,可以进行命名,输出高、低电平或高阻状态。

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支持多选之后,批量控制电平状态

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支持多选之后,批量添加到Waveform窗口

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4. 总结

和单片机不同,大多数FPGA芯片都是BGA封装的,管脚个数从200至1000不等,这也就意味着需要多层PCB来进行硬件设计,密集的引脚和PCB的内层走线,会导致故障的排查越来越困难,通过边界扫描,可以方便、快捷的判断出故障点,在产品研发、生产、测试阶段可以大大提高效率。文章来源地址https://www.toymoban.com/news/detail-708283.html

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