在数字IC芯片中，时钟树的功耗占比可能高达30%，因此一般会采取门控时钟的方式来降低该部分的功耗。所谓门控时钟，就是在芯片实际工作过程中，有些信号或者功能并不需要一直开启，那么就可以在它们不用的时候将其时钟信号关闭。这样一来信号不再翻转，从而能够有效减少动态功耗。
目前门控时钟都采用集成门控时钟单元（ICG，integrated clock gating cell），其结构如下。由一个latch和一个与门（也有的是或门）组成，可以过滤掉EN信号中的毛刺。一般的工艺库中都会有专门的ICG以供调用。
插入ICG后对电路的可测性有什么影响呢？
如下图所示，可以看到由于ICG的EN端不可控，导致ICG后面所驱动的所有寄存器的时钟均不受控，也就是说会带来scan的时钟可控问题，会很大程度降低故障覆盖率。
为解决上述问题，现在工艺库所提供的ICG一般会在latch的前面再集成一个或门，并增加一个TE端口，如下图所示，当TE为1时，ICG被强制打开，用来达到对scan时钟的可控制性。
新增的这个TE端口需要接到哪里呢？
一般做法是接到scan_enable信号上：当scan shift时，scan_enable为1，ICG打开使时钟通过，可以正常shift；当scan capture时，scan_enable为0，此时ICG的开关取决于EN端的值，因此enable logic这一部分的逻辑是可以被测试到的。
但scan capture时ICG又由EN端进行控制，如果此时enable logic非常复杂，会使得ATPG工具很难构造EN为1的场景，使得ICG后面所驱动的寄存器无法被测试到。文章来源：https://www.toymoban.com/news/detail-818233.html
因此改进的做法是采用test point来控制ICG的TE端：如下图，将test_point与scan_enable相或之后再接到ICG的TE端。在scan shift时，scan_enable为1，ICG打开可以正常进行shift；在scan capture时，由test_point来控制ICG，而test_point的值可以由ATPG工具进行指定，为0时可以测试到enable logic这一部分的逻辑，为1时可以保证ICG后面所驱动的寄存器在capture时有时钟。
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